Для цитирования:

Инютин А.B., Лукашевич М.М. Детекция дефектов печатных плат на основе архитектуры YOLOv8. Системный анализ и прикладная информатика. 2024;(2):16-24. https://doi.org/10.21122/2309-4923-2024-2-16-24

For citation:

Inyutin A.V., Lukashevich M.M. PCB defect detection based on YOLOV8 architecture. «System analysis and applied information science». 2024;(2):16-24. (In Russ.) https://doi.org/10.21122/2309-4923-2024-2-16-24